AFM
• Felipe Mondaini e Germano Maioli Penello
AFM – Microscópio de Força
Atômica
 Equipamento utilizado para visualizar a topografia de
amostras.
 Possui alto poder de resolução (frações de nanômetro)
 Opera medindo as forças entre a ponteira e a amostra que
dependem de diversos fatores como, por exemplo, dos
materiais que compõem a amostra e a ponteira
 Utilizamos dois modos de fazer as imagens: Contato e Tapping
Ponta magnética
Ponta elétrica
AFM(contato)
 Ocorre
uma atração entre a ponteira e a
amostra via forças do tipo Van der Waals.
 Esta proximidade faz com que os
orbitais eletrônicos dos átomos da
ponteira e da amostra comecem a se
repelir, entrando assim no regime de
forças repulsivas característico do modo
contato.
Medidas de contato
Escolha ruim de parâmetros
Analisando
as
medidas
Programa da Veeco
Analisando as medidas
Analisando as medidas
Corrigindo com o programa WSxM
Flatten 1ª ordem
Flatten 2ª ordem
Resultados
Grade periódica horizontal = 9,948 μm
Grade periódica vertical = 10,255 μm
Resultados
Profundidade = 194,825 nm
AFM (tapping)
• Este modo se baseia no fato da ponta oscilar e ficar tocando a
amostra regularmente.
AFM (tapping)
• Tem a vantagem de danificar
menos a amostra e de poder
trabalhar em ambiente do
laboratório;
• Medidas do desvio de fase podem
dar informações sobre a
rigidez/elasticidade da amostra;
• Elimina contribuição de forças
laterais;
Medidas de tapping
Medidas de tapping
Resultados
Grade periódica horizontal = 10,166 μm
Grade periódica vertical = 10,572 μm
Resultados
Profundidade = 209,589 nm
Outros modos de operação
• Modo de não-contato
• MFM (Magnetic Force Microscopy)
• EFM (Electrostatic Force Microscopy)
• STM (Scanning Tunneling Microscopy)
• LFM (Lateral Force Microscopy)
• CFM (Chemical Force Microscopy)