MESTRADO PROFISSIONAL EM METROLOGIA E QUALIDADE
BANCO DE SUGESTÕES DE TEMAS PARA DISSERTAÇÕES
Folha: 01/06
ÁREAS DE
CONCENTRAÇÃO
Metrologia dos
Fenômenos
Ondulatórios
LINHAS DE
PESQUISA
Metrologia
Científica
Tema: Incerteza dos mapas de predição de níveis de ruído em áreas habitadas no Brasil.
A ideia é estudar e aplicar três dos softwares mais conhecidos de predição de níveis de ruído, os quais vêm sendo utilizados cada
vez mais no país, e calibrá-los para a realidade do tráfego de veículos no Brasil.
Prof. Marco Antônio Nabuco de Araújo
Metrologia dos
Fenômenos
Ondulatórios
Metrologia
Científica
03
Tema: Qualidade acústica de eletrodomésticos.
Esse tema poderia ser oferecido aos profissionais na área de fonoaudiologia. A ideia é procurar uma correlação entre o ruído
emitido por aparelhos eletrodomésticos e novas métricas subjetivas, utilizando processos de auralização (na forma popular,
realidade virtual acústica).
Prof. Marco Antônio Nabuco de Araújo
Metrologia dos
Fenômenos
Ondulatórios
Metrologia
Científica
04
Tema: Aquecimento gerado por transdutores ultrassônicos terapêuticos segundo a norma ABNT NBR IEC 60601-2-5:2013.
Orientador: André Victor Alvarenga
Candidata: Raquel Monteiro Souza
Metrologia dos
Fenômenos
Ondulatórios
Metrologia
Científica
05
Tema: Uso do ultrassom na determinação do teor de sais e água em emulsões do tipo água em óleo.
Orientador: Rodrigo Pereira Baretto da Costa Félix
Candidato: Pâmella Assunção Oliveira
Metrologia dos
Fenômenos
Ondulatórios
Metrologia
Científica
06
Tema: Técnica tempo de voo da onda difratada (ToFD) para utilização em Ensaio Não Destrutivo (END) por ultrassom.
Orientador: Rodrigo Pereira Baretto da Costa Félix
Candidato: Ruan Carvalho Mayworm
Metrologia dos
Fenômenos
Ondulatórios
Metrologia
Científica
Nº
SUGESTÃO DE TEMAS
01
Tema: Incertezas nos jogos olímpicos.
A ideia seria investigar algumas das modalidades olímpicas, com foco na estimativa da incerteza de medição e como ela poderia
influir comprometendo os resultados de algumas disputas nas modalidades olímpicas selecionadas. Profissionais formados em
educação física, física, engenharia mecânica, engenharia da produção, e outros.
Prof. Marco Antônio Nabuco de Araújo
02
Pós-Graduação do Inmetro
Mestrado Profissional em Metrologia e Qualidade
Av. Nossa Senhora das Graças, 50 ::: Xerém ::: 25250-020 ::: Duque de Caxias, RJ, Brasil
Te: (21) 2679-9846 / 3189 ::: e-mail: [email protected]
http://www.inmetro.gov.br
MESTRADO PROFISSIONAL EM METROLOGIA E QUALIDADE
BANCO DE SUGESTÕES DE TEMAS PARA DISSERTAÇÕES
Folha: 02/06
07
Tema: Retroespalhamento fotoacústico por ultrassom em ossos esponjosos sintéticos e avaliação dos impactos metrológicos.
Orientador: Rodrigo Pereira Baretto da Costa Félix
Candidato: Douglas dos Santos Braz
Metrologia dos
Fenômenos
Ondulatórios
Metrologia
Científica
08
Tema: Impacto do Novo SI (2018) no ensino médio e superior em física e engenharia.
Orientador: Rodrigo Pereira Baretto da Costa Félix
Candidato: Artur Maurício Coelho de Jesus
Metrologia dos
Fenômenos
Ondulatórios
Metrologia
Científica
09
Tema: Polarimetria Aplicada - Montagem de um Módulo para Ensaios de Rotação Óptica em Líquidos.
Prof.ª Ana Paula Dornelles De Alvarenga
Metrologia
Científica
10
Tema: Técnicas Computacionais para Controle de Fraude em Organismos Acreditados
Prof. Luiz Fernando Rust da Costa Carmo/ Prof.ª Luci Pirmez
Metrologia dos
Fenômenos
Ondulatórios/Óptica
Metrologia Elétrica
e de TIC
11
Tema: Usando os frameworks de segurança ARM TrustZone e Intel SGX no desenvolvimento de software para aplicações em
metrologia.
Prof. Luiz Fernando Rust da Costa Carmo/ Prof. Wilson de Souza Melo Junior
Metrologia Elétrica
e de TIC
Avaliação da
Conformidade
12
Tema: Requisitos de segurança da informação e de proteção de software para dispositivos inteligentes.
Prof. Raphael Carlos Santos Machado
Metrologia Elétrica
e de TIC
Metrologia
Científica
13
Tema: Métodos e técnicas para análise de software embarcado em dispositivos inteligentes.
Prof. Raphael Carlos Santos Machado
Metrologia Elétrica
e de TIC
Metrologia
Científica
14
Tema: Análise de segurança de mecanismos de verificação de integridade de software baseados em reflexão.
Prof. Raphael Carlos Santos Machado
Metrologia Elétrica
e de TIC
Metrologia
Científica
15
Tema: Gestão da segurança da informação em laboratórios envolvidos com análise de software de terceiros.
Prof. Raphael Carlos Santos Machado
Metrologia Elétrica
e de TIC
Metrologia
Científica
16
Tema: Metrologia em Imagens.
Prof. Charles Bezerra do Prado
Metrologia Elétrica
e de TIC
Metrologia
Científica
17
Tema: Metodologia de verificação de segurança em hardware para dispositivos inteligentes.
Prof. Charles Bezerra do Prado
Metrologia Elétrica
e de TIC
Metrologia
Científica
Pós-Graduação do Inmetro
Mestrado Profissional em Metrologia e Qualidade
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Acreditação
MESTRADO PROFISSIONAL EM METROLOGIA E QUALIDADE
BANCO DE SUGESTÕES DE TEMAS PARA DISSERTAÇÕES
Folha: 03/06
18
Tema: Termometria de ponto fixo. Projeto e construção de células de ponto fixo. Pontos fixos de ligas eutéticas: projeto,
construção e modelagem matemática do processo de fusão e solidificação de células de ponto fixo.
Prof. Amaury Roteger de Oliveira
Metrologia Física
(Térmica)
Metrologia
Científica
19
Tema: Termometria de radiação. Desenvolvimento de metodologia para a calibração de termômetros clínicos timpânicos.
Calibração de câmeras de termo imagem, avaliação das grandezas de influência para o cálculo da incerteza de calibração.
Prof. Amaury Roteger de Oliveira
Metrologia Física
(Térmica)
Metrologia
Científica
20
Tema: Termometria de contato. Construção de termopares especiais, de metais puros, avaliação da melhor capacidade de
medição desse tipo de termômetro Construção de termômetros de resistência de platina padrões.
Prof. Amaury Roteger de Oliveira
Metrologia Física
(Térmica)
Metrologia
Científica
21
Tema: Propriedades térmicas. Medição de condutividade e emissividade térmica.
Prof. Amaury Roteger de Oliveira
Metrologia Física
(Térmica)
Metrologia
Científica
22
Tema: Medição de temperatura industrial. Envolve medição na indústria cerâmica, de vidros, siderurgia, de tratamentos térmicos,
farmacêutica e química.
Prof. Amaury Roteger de Oliveira
Metrologia Física
(Térmica)
Metrologia
Científica
23
Tema: Higrometria. Calibração de estações meteorológicas. Desenvolvimento de sensores de umidade.
Prof. Amaury Roteger de Oliveira
Metrologia Física
(Térmica)
Metrologia
Científica
24
Tema: Mapeamento das demandas e ofertas por programas brasileiros de produção de materiais de referência no contexto da
acreditação de laboratórios e produtores pela Coordenação Geral de Acreditação (Cgcre).
Prof.ª Renata Martins Horta Borges
Metrologia Química
e da Vida
Acreditação
25
Tema: Cálculo de incerteza de medição em análises químicas.
Prof. Werickson Fortunato de Carvalho Rocha
Metrologia Química
e da Vida
Metrologia
Científica
26
Tema: Produção de matérias de referências certificados: uma abordagem estatística.
Prof. Werickson Fortunato de Carvalho Rocha
Metrologia Química
e da Vida
Metrologia
Científica
27
Tema: Validação de métodos analíticos.
Prof. Werickson Fortunato de Carvalho Rocha
Metrologia Química
e da Vida
Metrologia
Científica
Pós-Graduação do Inmetro
Mestrado Profissional em Metrologia e Qualidade
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MESTRADO PROFISSIONAL EM METROLOGIA E QUALIDADE
BANCO DE SUGESTÕES DE TEMAS PARA DISSERTAÇÕES
Folha: 04/06
28
Tema: Planejamento de experimentos em Química, Biologia e áreas afins.
Prof. Werickson Fortunato de Carvalho Rocha
Metrologia Química
e da Vida
Metrologia
Científica
29
Tema: Calibração multivariada em ciências.
Prof. Werickson Fortunato de Carvalho Rocha
Metrologia Química
e da Vida
Metrologia
Científica
30
Tema: Métodos de classificação em ciências.
Prof. Werickson Fortunato de Carvalho Rocha
Metrologia Química
e da Vida
Metrologia
Científica
31
Tema: Estatística inferencial paramétrica e não-paramétrica para comparação interlaboratorial.
Prof. Werickson Fortunato de Carvalho Rocha
Metrologia Química
e da Vida
Metrologia
Científica
32
Tema: Uso de Quimiometria em técnicas analíticas.
Prof. Werickson Fortunato de Carvalho Rocha
Metrologia Química
e da Vida
Metrologia
Científica
33
Tema: Cartas de controle univariadas e multivariadas para controle de processos.
Prof. Werickson Fortunato de Carvalho Rocha
Metrologia Química
e da Vida
Metrologia
Científica
34
Tema: Estudo de imagens hiperespectrais.
Prof. Werickson Fortunato de Carvalho Rocha
Metrologia Química
e da Vida
Metrologia
Científica
35
Tema: Métodos Espectroscópicos (UV-VIS, Raman, infravermelho e etc..) para análises químicas através de Quimiometria.
Prof. Werickson Fortunato de Carvalho Rocha
Metrologia Química
e da Vida
Metrologia
Científica
36
Tema: Desenvolvimento de uma sistemática para mapeamento de demandas e ofertas por Materiais de Referência e Ensaios de
Proficiência.
Prof.ª Vanderléa de Souza
Metrologia Química
e da Vida
Metrologia
Científica
37
Tema: Desenvolvimento de ferramentas para avaliação do modelo de governança da Rede de Metrologia Química do Inmetro.
Prof. Vanderléa de Souza
candidata: Fernanda Bernardi
Metrologia Química
e da Vida
Metrologia
Científica
38
Tema: Produção e Certificação de Materiais de Referência.
Prof. Vanderléa de Souza
Metrologia Química
e da Vida
Metrologia
Científica
Pós-Graduação do Inmetro
Mestrado Profissional em Metrologia e Qualidade
Av. Nossa Senhora das Graças, 50 ::: Xerém ::: 25250-020 ::: Duque de Caxias, RJ, Brasil
Te: (21) 2679-9846 / 3189 ::: e-mail: [email protected]
http://www.inmetro.gov.br
MESTRADO PROFISSIONAL EM METROLOGIA E QUALIDADE
BANCO DE SUGESTÕES DE TEMAS PARA DISSERTAÇÕES
Folha: 05/06
39
Tema: Acreditação e a Temática Ambiental: Mudanças Climáticas, Poluição Ambiental, Gestão Ambiental na Indústria,
Desenvolvimento Sustentável. Acordos Regionais e Internacionais Ambientais. Políticas públicas voltadas para o paradigma
ambiental.
Prof. Ricardo Kropf Santos Ferman
Qualidade
Acreditação
40
Tema: Acreditação e Competitividade: Competição na Indústria. Inovação Tecnológica. Gestão da Inovação Tecnológica. O papel
da acreditação na competitividade industrial/nacional e na inovação. Acreditação e acesso a mercados por parte de produtos e
serviços nacionais.
Prof. Ricardo Kropf Santos Ferman
Qualidade
Acreditação
41
Tema: Acreditação de organismos de avaliação da conformidade. Estudo e aprimoramento do processo/sistemática de
acreditação. Novos programas de acreditação.
Prof. Ricardo Kropf Santos Ferman
Qualidade
Acreditação
42
Tema: Avaliação do desempenho de edificações e espaços construídos.
Prof. Luiz Roberto Mayr
Qualidade
Avaliação da
Conformidade
43
Tema: Avaliação do desempenho de tecnologias e sistemas construtivos.
Prof. Luiz Roberto Mayr
Qualidade
Avaliação da
Conformidade
44
Tema: Avaliação do desempenho de sistemas de produção de serviços.
Prof. Luiz Roberto Mayr
Qualidade
Avaliação da
Conformidade
45
Tema: Avaliação do desempenho ambiental de produtos e processos.
Prof. Luiz Roberto Mayr
Qualidade
Avaliação da
Conformidade
46
Tema: Avaliação do desempenho ambiental das organizações.
Prof. Luiz Roberto Mayr
Qualidade
Avaliação da
Conformidade
47
Tema: Boas Práticas de Medição aplicadas a produtos pré-embalados.
Prof. Marcos José Hoffmann de Senna
Qualidade
Metrologia
Legal
48
Tema: Controle Estatístico de Processo aplicado a produtos pré-embalados.
Prof. Marcos José Hoffmann de Senna
Qualidade
Metrologia
Legal
Pós-Graduação do Inmetro
Mestrado Profissional em Metrologia e Qualidade
Av. Nossa Senhora das Graças, 50 ::: Xerém ::: 25250-020 ::: Duque de Caxias, RJ, Brasil
Te: (21) 2679-9846 / 3189 ::: e-mail: [email protected]
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MESTRADO PROFISSIONAL EM METROLOGIA E QUALIDADE
BANCO DE SUGESTÕES DE TEMAS PARA DISSERTAÇÕES
Folha: 06/06
49
Tema: Estimativa da incerteza de medição associada ao exame metrológico legal de produtos pré-embalados.
Prof. Marcos José Hoffmann de Senna
Qualidade
Metrologia
Legal
50
Tema: Gestão de Medição de produtos pré-embalados.
Prof. Marcos José Hoffmann de Senna
Qualidade
Metrologia
Legal
51
Tema: Regulamentação técnica e metrológica de produtos pré-embalados.
Prof. Marcos José Hoffmann de Senna
Qualidade
Metrologia
Legal
Áreas de Concentração:
1. Metrologia dos Fenômenos Ondulatórios = Concentra as subáreas de Óptica, Acústica, Ultrassom e Vibração.
2. Metrologia Elétrica e de TIC = Concentra as subáreas de Elétrica, Tecnologia da Informação, Telecomunicações e Tempo-Frequência.
3. Metrologia Física = Concentra as subáreas de Materiais, Mecânica, Térmica e Dinâmica de Fluídos.
4. Metrologia Química e da Vida = Concentra as subáreas de Química e Ciências da Vida.
5. Qualidade = Centrada nos conceitos de normalização e regulamentação.
Linhas de Pesquisa:
a) Acreditação = Visa os aspectos de reconhecimento formal por um organismo independente especializado em normas técnicas daquele setor de que uma instituição atende a
requisitos previamente definidos e demonstra ser competente para realizar suas atividades com segurança.
b) Articulação Internacional = Visa as atividades de suporte ao comércio exterior que envolvem questões de regulamentação técnica, normalização e procedimentos de avaliação da
conformidade.
c) Avaliação da Conformidade = Trata dos procedimentos para provimento de um adequado grau de confiança em um determinado produto, mediante o atendimento de requisitos
definidos em normas ou regulamentos técnicos.
d) Metrologia Científica = Enfoca os processos de análise, desenvolvimento dos padrões de medição e inovação tecnológica que embasam a metrologia nos seus diferentes alcances.
e) Metrologia Legal = Visa os aspectos técnicos e metrológicos dos instrumentos de medição e medidas materializadas relacionados às áreas de saúde, segurança, meio ambiente e
relações comerciais.
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