Instrumentação e dispositivos George Machado Jr., Pedro Alpuim Departamento de Física, Universidade do Minho Mestrado em Física – Ramo Física Aplicada, 2013 - 2014 Nanoelectronics: thin film devices group Thin film semiconductor devices, graphene devices http://inl.int/working_groups/20 Instrumentação e Dispositivos Programa ________________________________________ Parte A (Módulo A) Tecnologia de Silício avançada: (i) Integração; (ii) Litografia; (iii) Gravação a seco; (iv) Oxidação e difusão; (v) Metalização; (vi) Deposição de filmes finos; (vii) Micromaquinação em volume e de superfície. Parte B (Módulo B) Dispositivos para aquisição e processamento de sinal: (i) Díodos e transístores bipolares; (ii) O MOSFET e a tecnologia CMOS; (iii) Amplificadores operacionais; (iv) Transdutores (PMT, CCD, outros); (ii) Conversão analogica-digital de sinal: ADC/DAC; (iii) Controlo de sistemas e processos; (iv) Técnicas de detecção síncrona (modulação e detecção de sinais – amplificador Lock-in) Parte C (Módulo C) Sistemas avançados de imagem: (i) Microscopia electrónica de varrimento (SEM); (ii) Miscroscopia de transmissão electrónica (TEM); (iii) Microscopias de sonda de varrimento (SPM); (iv) Microscopia confocal Nota: as tecnologias a abordar de entre as enumeradas acima serão apenas aquelas a que houver acesso directo no ano lectivo em questão. Avaliação • Elaboração de relatórios detalhados das actividades experimentais; • Elaboração de protocolos de funcionamento de sistemas para medições específicas; • Apresentação e discussão oral, individual, de artigos científicos onde seja relevante a utilização do equipamento em estudo; • Resolução de problemas (t.p.c.) • Assiduidade às aulas (número máximo de faltas regulamentar) I&D: Horas de contacto • OT Orientação Tutorial 10 h semestrais • PL Práticas Laboratoriais 20 h • T Teóricas 35 h • S Seminário 10 h • Trabalho autónomo: 135 Horas (9 h por semana) 1 semestre = 15 semanas Bibliografia • “Physics of Semiconductor Devices”, S.M. Sze, K.K. Ng, 3rd Edition, J. Wiley & Sons Inc., New York (2006) • “Principles of Electrical Engineering Materials and Devices”, S.O. Kasap, McGraw-Hill Higher Education, 3rd Edition, Singapore (2006) • “An Introduction to Microelectromechanical Systems Engineering”, N. Maluf, Artech House, Boston (1999) • “MOSFETS e Amplificadores Operacionais”, J.G. Vieira da Rocha, Netmove Comunicação Global, Lda, Porto (2005) • “Introduction to Nanoscience”, S. M. Lindsay, Oxford University Press (2010) • “The art of electronics”, P. Horowitz, W. Hill (2nd Edition) Cambridge University Press (1989) Novos materiais 2D Graphene h-BN MoS2, WS2, MoSe2 Eg>5 eV [email protected] Nuno Peres – Fisica - UM 1<Eg<2 eV Graphene field-effect transistors G-FET Raman Intensity (a.u.) No GF GF on Au GF channel 1500 2000 2500 Raman shift (cm-1) Channel length 6, 12, 25 um (280) Raman spectroscopy map at 532 nm 3000 3500 Crescimento / transferência do grafeno Easy Tube 3000, First Nano. Graphene CVD deposition in 100 mm quartz tube on copper catalyst. 1020 °C, H₂:CH₄ 6:1, P = 0.5 Torr. Cu (25 mm × 25 mm) parts Cu (150 mm x 100 mm) Dissolution of the copper foil in the FeCl3 solution. Tecnologia de Silício avançada Sala limpa de classe 100 Fotolitografia Optical Litografia Corte Transferência grafeno Barcelona, May, 26th 2015 Slide 11/19 Sistemas avançados de imagem Microscópio Raman Confocal Grelha TEM coberta com grafeno suspenso Microscópio de Varrimento de Sonda de UltraAlto Vácuo Miscroscópio de Transmissão Electrónica de Alta Resolução (HRTEM) com correcção de aberração Agradecimentos • Ao Prof. Safa Kasap por disponibilizar as transparências do curso seu livro “Principles of Electrical Engineering Materials and Devices” • À Prof. Fátima Cerqueira por disponibilizar os instrumentos do laboratório de fotocondutividade Obrigado pela vossa atenção. Ficamos à vossa espera no próximo ano!